溫度冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)機(jī)儀器儀表

簡(jiǎn)介：

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于航天、 艦船、電工、電子、儀器儀表；醫(yī)療器械；民用核能；高等院校；科研實(shí)驗(yàn)所；商檢仲裁、技術(shù)監(jiān)督部門(mén)；建材陶瓷；石油化工等產(chǎn)品、整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱升降溫速錄分析：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱它的結(jié)構(gòu)基本分為二箱式和三箱式兩種；它的升降溫速率（沖擊速率）國(guó)標(biāo)是有嚴(yán)格規(guī)定的，一般無(wú)論二箱式還是三箱式動(dòng)作時(shí)間必需小于15秒，恢復(fù)時(shí)間小于5分鐘。

快速升降溫（快速溫變?cè)囼?yàn)箱），它一般是一個(gè)箱體構(gòu)成，但特殊的升降溫要求（升降溫速率要求過(guò)高時(shí)）時(shí)，也會(huì)采用兩個(gè)箱體；它的zui大升降溫速率一般大于國(guó)標(biāo)規(guī)定的范圍，常見(jiàn)的有6攝氏度/分鐘至15攝氏度/分鐘的升降溫速率，但其速率可以像普通試驗(yàn)箱一樣，通過(guò)儀表控制任意設(shè)定其速率。

品名：二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

型號(hào)：TSC-80PF-2P

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容積：80L

內(nèi)形尺寸（寬W*高H*深D)：W400*H350*D350mm

外形尺寸（寬W*高H*深D):W1370*H1810*D1950mm

溫度沖擊范圍:（+60～+150）℃/（-40～-10）℃

控制器:韓國(guó)三元進(jìn)口控制器TEMI8226S

壓縮機(jī):比澤爾壓縮機(jī)

電源：AC380V  三相四線(xiàn)+保護(hù)地線(xiàn)

技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：高溫箱： +60℃～200℃；

          低溫箱： 0℃～-70℃；　

溫度波動(dòng)度：±0.5℃;

溫度均勻：±2℃;

升溫速率：≤5℃/min； （全程平均）　

降溫速率：≤5℃/min；； （全程平均）

預(yù)冷下限溫度：≤-70℃

沖擊溫度：+150～-60℃;

工作室尺寸： 400×400×500mm; （深×寬×高）（多款可選，

樣品架尺寸:150×150mm;

溫度恢復(fù)時(shí)間： 5min;

樣品架轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10s;

沖擊方式：上下移動(dòng)提籃式或翻板式

溫度冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)機(jī)儀器儀表

控制系統(tǒng)：
1、溫度控制器采用*彩色觸摸式智能可程序溫度控制器，程式編輯容易，熒幕操作簡(jiǎn)單。
2、溫度顯示0.1℃，解析度±0.1℃。
3、中英文液晶顯示LCD觸摸式面板，畫(huà)面對(duì)談式輸入數(shù)據(jù)，溫度可程控。
4、具有自動(dòng)演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定。
5、控制器具有熒屏自動(dòng)屏保功能，在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行狀態(tài)下更好的保護(hù)液晶屏使其壽命更長(zhǎng)久。
6、所有電器均采用（施耐德）系列產(chǎn)品溫度控制采用P.I.D＋S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制。
7、資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機(jī)。
8、具有RS-232或RS-485遠(yuǎn)程通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程式，監(jiān)視試驗(yàn)過(guò)程并執(zhí)行自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)以及滿(mǎn)足試驗(yàn)方法：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)